基础练习 芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

#include <iostream>using namespace std;int a[100][100];int visited[100];int main(){    int n;    cin>>n;    for(int i=0;i<n;i++)        for(int j=0;j<n;j++)        cin>>a[i][j];    int f=1;    int flag;    for(int i=0;i<n;i++)    {        visited[i]=1;        flag=0;        for(int j=0;j<n;j++)        {            if(a[i][j]==1&&i!=j)            {                flag=1;                if(a[j][i]!=1)                {                    visited[i]=0;                    break;                }            }        }        if(visited[i]==1&&flag)        {            if(f==1)            {                cout<<i+1;                f=0;            }            else cout<<" "<<i+1 ;        }    }    return 0;}

找出统计规律