可靠性相关

1  范围

本标准规定了深圳市中兴通讯股份有限公司产品可靠性鉴定试验(寿命为指数分布的产品)的方法和要求。

本标准适用于深圳市中兴通讯股份有限公司的电子产品的可靠性鉴定试验。

注：从理论上说，包含未筛选剔除早期故障的产品寿命不是指数分布，因此使用本指南的产品应经过较严格的筛选才投入试验。

2  引用标准

GJB 451-1990   可靠性维修性术语（MIL—STD—721C）

GJB 813-1990   可靠性模型的建立与可靠性预计（MIL—STD—756B）

GJB 899-1992   可靠性鉴定与验收试验（MIL—STD—781D及MIL—HDBK781）

GJB/Z299B-1997  电子设备可靠性预计手册（MIL—STD—217F）

YD 282-1982     邮电通信设备可靠性通用试验方法。

YD/T 642-1993       载波通信设备可靠性指标及试验方法。

3   定义

3.1 可靠性试验（reliabilitytest）

为分析、评价产品的可靠性而进行的试验。

3.2  可靠性鉴定试验（reliabilitycompliance test）

为确定产品可靠性与设计要求可靠性的一致性，用有代表性的产品在规定条件下所作的试验，并以此作为批准定型的依据及主要设计、工艺更改的鉴定。

3.3  定时截尾试验

达到规定的累计试验时间就截止的试验。

3.4  截尾序贯试验

在试验过程中，将累计的相关试验时间和累积的相关失效数与规定的判断接收、拒收或继续试验的标准进行比较，作出判决。

3.5  环境应力筛选（EnvironmentalStress Screening）

   是在电子产品上施加随机振动及温度循环等应力，以鉴别和剔除产品工艺和元件引起的早期故障的一种工序或方法，简称ESS。

3.6  试验剖面（testing profile）

可靠性试验所用各种试验条件（工作条件与环境条件┅）的组合顺序。在试验剖面的一个周期内，应明确诸工作条件。环境条件存在于哪一段时间区间内及它们之间的相互关系。

3.7  关联故障（relevant failure）及非关联故障（nonrelevant failure）

已经证实是未按规定的条件使用而引起的故障，或是已经证实仅属某项将不采用的设计所引起的故障叫“非关联故障”；否则叫“关联故障”。

关联故障用来评估产品的可靠性，包括：

a）  设计或工艺故障，即由于产品或零部件设计缺陷或工艺不可靠造成的故障。例如电路在规定容许的高温下性能漂移超过容许限，电装的焊点虚焊等等；

b）  零部件故障，即由于零部件故障引起的产品故障。例如CMOS电路由于闩锁效应使电路不能完成规定功能等等。在可靠性试验中，如果有几个相同型号的元器件一起出故障，如果判定它们不是从属故障，则应算作出现了几个独立的关联故障；

c）  耗损零件故障，某些有规定使用寿命的零件，例如磁控管，如果试验前已明确使用寿命，在试验中，在使用寿命期间出现故障算关联故障（在使用寿命期后出现故障是非关联故障）；

d）  多重故障。如果在可靠性试验中有多种零件一起出故障，如能判定其中任一个零件的故障均能独立地阻碍产品正常工作，则每个故障应计为关联故障；

e）  间歇故障（有时是瞬间故障）。任一产品的间歇故障在第一次出现时应算作关联故障，但在产品同一部位相继出现的同一间歇故障不应把关联故障重复计数；

f）  BITE（机内测试设备）故障。BITE的每一次虚警，如果是独立的应计为一个关联故障。

注:对于可靠性试验中出现的关联故障，如果采取了有效的针对性纠正措施，试验证明措施已消除了这种故障，则可不算关联故障。

3.8  预计值（preview）θP

是产品研制中按照设备的设计使用环境，用可靠性预计的方法确定的MTBF值。

3.9  门限值（threshold）θT

是产品达到的使用指标。它能满足产品的使用需求，它是确定最低可接受值的依据。

注:可信性指标应根据产品的类型在论证时提出目标值和门限值。

3.10  规定值（specified value）θ0

   是合同和研制任务书中规定的期望产品达到的合同指标。它是承制方进行可信性设计的依据。

3.11  最低可接受值（minimumacceptable value）θ1

   是合同和研制任务书中规定的产品必须达到的合同指标，它是考核和验证的依据。

注:应在制订合同和研制任务书时，提出可信性指标规定值和最低可接受值。

3.12  点估计值 θ^

根据对产品的样本试验后观测得到的样本值，估计出总体参数的某个具体值，称为点估计值。它是某一个试验的统计值，对于电子产品，其寿命服从指数分布。

    θ^ = T/r = （1/r）[Σt_i+(n-r)t_r]

r —— 故障数；

T —— 总试验时间

t_i—— 第i个产品故障前的工作时间；

t_r—— 第r个故障发生的时间（即定数截尾时间），如果是定时截尾试验，则用t₀替代t_i ；

n —— 样本数。

3.13  温度加速系数（temperature accretion factor）

设某产品于温度T₁下的故障率为λ₁，在温度T₂下的故障率为λ₂，则温度T₂下对温度T₁的故障率加速系数为

                    A_T=λ₂/λ₁

如今T₁为常温标准值为25℃，此时的最低可接受值为θ₁，则于环境温度为T₂时的最低可接受值应为

←

 θ1/A_T

    由于产品各元器件的激活能不同，结温不同，应分别计算后综合出产品的加速系数，产品以可靠性预计得加速系数后修正为宜。

3.14  接收概率（probability ofacceptance）

具有一定质量的批，按给定的抽样方案接收的概率。

3.15  拒收概率（probability ofrejection）

具有一定质量的批，按给定的抽样方案拒收的概率。

3.16  极限质量（limiting quality）

比极限质量更差的质量水平是不能接收的。因此，极限质量是能接受的质量水平的极限值。

3.17  使用方风险（consumer’srisk）,记为β

当产品的质量水平为极限质量时，产品被接收的概率。

注:比极限质量再差一点的批产品是不能接受的，所以必须相应的接受概率比较小，但因OC曲线是连续的，所以极限质量点的接收概率L（θ1）也应比较小的，它是比θ1更差的批产品被接收概率的上限。

3.18  可接收质量水平（acceptablequality level）,记为AQL

   当产品的质量水平为可接受质量水平时，批产品以高概率被接收，如以平均寿命为质量指标，则可接受质量水平记为θ₀。

3.19  生产方风险（producer’srisk）,记为α

当产品的质量水平为可接受质量水平时，产品被拒收的概率。

注:生产方从生产成本等各方面权衡后，选定一个生产方认为可接受的质量水平θ₀，它不一定是目标值。可接收质量水平点θ₀的接收概率L（θ₀）是较高的，即1-L（θ₀）=α是较低的。

3.20  鉴别比（discriminationratio）,记为d

θ₀与θ₁之比，d =θ₀/θ₁。